申请类型: 实用新型
申请号: CN202421089128.5
申请日期: 2024-05-20
公开号: CN222231833U
名称: 一种实验检测用天平
公开日期: 2024-12-24
当前法律状态: 授权
状态: 有权
主要IPC: G01G19/00(2006.01);G01G21/00(2006.01);G01G21/10(20
申请人(专利权人): 天津中科锦析科技有限公司
发明人/设计人: 张秋池
地址: 300350 天津市津南区葛沽镇滨海民营经济成长示范基地会展经济中心A座1908室115号
摘要: 本实用新型公开了一种实验检测用天平,包括电子天平外壳,所述电子天平外壳的底部等距对称安装有四个支撑件,所述电子天平外壳的顶部固定连接有防护罩,所述防护罩两侧相对的内部均开设有通风槽,所述通风槽的内部均设置有过滤组件;所述过滤组件包括安插在通风槽内部的安装框架和安装在安装框架内部的防尘棉板与活性炭板,所述防尘棉板靠近防护罩的外侧。通过上述结构,防护罩可对称量盘进行防护,以减少环境中灰尘等微小颗粒物质对检测结果的干扰,同时通风槽可保证防护罩内部良好的通风,防止密封的防护罩内部环境潮湿而影响检测环境,且在防尘棉板和活性炭板的过滤作用下可减少灰尘和湿气的进入,利于保持检测环境清洁和干净。
代理人: -
代理机构: -
申请日期: 2024-05-17
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-16
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-14
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-13
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-13
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-13
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2023-12-28
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-11
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2023-12-29
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-13
公开日期: 2024-12-24
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