申请类型: 实用新型
申请号: CN202420744585.7
申请日期: 2024-04-10
公开号: CN222232554U
名称: 一种芯片装片后芯片电压检测仪
公开日期: 2024-12-24
当前法律状态: 授权
状态: 有权
主要IPC: G01R19/00(2006.01);G01R1/04(2006.01)
申请人(专利权人): 无锡德力芯半导体科技有限公司
发明人/设计人: 王俊伟;游玉;黄国荣
地址: 214000 江苏省无锡市新吴区新华路8号(9号厂房)
摘要: 本实用新型公开了一种芯片装片后芯片电压检测仪,包括测试仪本体,且测试仪本体的前侧底部安装有安置架,并且安置架上架设有检测头,而且检测头上安装有导线,同时导线上的端头与测试仪本体后侧的插口相连接;还包括:所述插口的外侧端部对称开设有滑槽,且滑槽中连接有防脱杆,并且防脱杆的端部与端头错位抵触;所述测试仪本体的壳体设置为中空结构。该芯片装片后芯片电压检测仪,在使用时,在导线端头与插口对接后,通过弹簧和防脱杆的设置,对连接后的端头进行垂直方位的错位抵触,进而防止使用过程中有外力牵拉而导致导线松脱,进而影响检测工作的进行,同时在连接处设置密封机构,进而提高连接处的密封性能。
代理人: 刘艳
代理机构: 北京睿博行远知识产权代理有限公司 11297
申请日期: 2024-04-08
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-04-08
公开日期: 2024-12-24
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公开日期: 2024-12-24
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公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-04-03
公开日期: 2024-12-24
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公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-03-28
公开日期: 2024-12-24
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公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-03-28
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