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一种混合信号芯片的电路测试装置
公开号: CN222232619U | 申请号: CN202422779684.1

申请类型: 实用新型

申请号: CN202422779684.1

申请日期: 2024-11-14

公开号: CN222232619U

名称: 一种混合信号芯片的电路测试装置

公开日期: 2024-12-24

当前法律状态: 授权

状态: 有权

主要IPC: G01R31/3167(2006.01);G01R1/02(2006.01);B08B5/04(20

申请人(专利权人): 合肥芯旷电子科技有限公司

发明人/设计人: 郝弘毅;请求不公布姓名

地址: 230601 安徽省合肥市包河区广西路1789号中国科学技术大学国际金融研究院4号楼605室

摘要: 本实用新型公开了一种混合信号芯片的电路测试装置，包括基座，基座的内部设置有用于控制芯片进行测试作业的驱动组件和对芯片进行去尘的清洁组件；清洁组件包括活塞桶和凸块，活塞桶的表面贯通连接有抽吸管和排气管，抽吸管与除尘槽贯通连接；清洁组件内部滑动连接有滑轴，滑轴靠近抽吸管的一端固定连接有活塞板，滑轴靠近凸块的另一端固定连接有挤压板；滑轴表面套设有复位弹簧；通过设置清洁组件在芯片测试前对芯片进行吹气除尘，避免了对不良芯片电路进行打磨后其碎屑对后续测试造成不利影响，从而提高了测试的准确性。

代理人: -

代理机构: -