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一种便于离子消散除尘的控温芯片测试压头
公开号: CN222235116U | 申请号: CN202323572151.8

申请类型: 实用新型

申请号: CN202323572151.8

申请日期: 2023-12-25

公开号: CN222235116U

名称: 一种便于离子消散除尘的控温芯片测试压头

公开日期: 2024-12-24

当前法律状态: 授权

状态: 有权

主要IPC: H05F3/06(2006.01);H05K7/20(2006.01);B08B5/02(2006.

申请人(专利权人): 沛顿科技（深圳）有限公司

发明人/设计人: 龚高鹏;王思芳;王凌;邓亿龙;盖希林;唐顺民

地址: 518035 广东省深圳市福田区彩田路7006号

摘要: 本实用新型属于芯片测试治具结构设计技术领域，具体为一种便于离子消散除尘的控温芯片测试压头，包括压头、风孔，电极针、控温模块，其中压头用来接触芯片，压头底端有五个风孔，风孔上端有五根电极针，电极针安装于压头上端内壁，外接电源供电极针放电，另外内壁安装有控温模块，控温模块会捕捉到压头内部的温度变化，将温度实况反馈给系统，系统会依据所设定的可测试温度区间，对压块内部进行升温或者降温，使得压头内部的温度保持在原先所设定的可测试温度范围内，给芯片测试提供了一个良好的测试温度环境，使得测试数据更为准确，同时压头设计不仅可以清除芯片上表端的灰尘，同时也起到压头与芯片接触时的防静电作用。

代理人: 欧志明

代理机构: 广东普润知识产权代理有限公司 44804