申请类型: 实用新型
申请号: CN202421041681.1
申请日期: 2024-05-14
公开号: CN222225310U
名称: 陶瓷基片测试机构
公开日期: 2024-12-24
当前法律状态: 授权
状态: 有权
主要IPC: B65G47/82(2006.01);B65G15/30(2006.01)
申请人(专利权人): 深圳市粤瓷电子科技有限公司
发明人/设计人: 谢建兵;谢飞;谢林春
地址: 518000 广东省深圳市宝安区福永街道白石厦社区东区永丰一路大都工业区2栋4层
摘要: 本申请公开了陶瓷基片测试机构,涉及测试技术领域。本申请包括机架,所述机架上安装有检测组件,所述机架上配置有沿朝向检测组件的方向往复移动的承载板,所述承载板上配置有将检测后陶瓷基片从承载板上脱离的拨杆,所述机架上安装有上料框,所述上料框上可拆卸连接有储料架,上料框和储料架之间具有相连通的排料通道,所述上料框上配置有用于将储料架内的陶瓷基片通过排料通道推入至承载板上的推送组件。本申请与现有技术相比,可完成陶瓷基片的上下料工作,有助于陶瓷基片的批量检测工作。
代理人: 赵夏笛
代理机构: 北京卓岚智财知识产权代理有限公司 11624
申请日期: 2024-05-13
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-13
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-13
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-11
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-11
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-10
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-11
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-11
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-11
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-10
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-10
公开日期: 2024-12-24
查看更多申请日期: 2024-05-09
公开日期: 2024-12-24
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